|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Heavy-ion induced radiation effects in 50 nm NAND floating gate flash memories |
| Auteur: |
Yin, Ya-nan Liu, Jie Liu, Tian-qi Ye, Bing Ji, Qing-gang Sun, You-mei Zhou, Xin-jie |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 102 (2019) nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |