|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of Schottky emission electric charge transport mechanism in Cu-Lu2O3-Cu MIM structure by temperature dependent current-voltage characteristics |
| Auteur: |
Akbar, Shahnaz Jacob, Jolly Mahmood, Khalid Wasiq, M.F. Jaffari, Ghulam Hassnain Khan, Muhammad Azhar |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 102 (2019) nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |