|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Behavior of Au and Pd and the effects of these metals on IMCs in Pd-Au-coated copper wire |
| Auteur: |
Park, Hyun-Woong Lee, Sang-Jun Cho, Dong-Chul Lee, Sang-Hoon Kim, Jae-Kyun Lee, Jun-Hee Jung, Sang-Kyo Nam, Hong-Sik Hsu, Patrick Low, Shin Lim, Sung-Hwan |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 91 (2018) nr. P2 pagina's 283-290 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |