|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 23 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Thermal performance analysis of GaN nanowire and fin-shaped power transistors based on self-consistent electrothermal simulations |
| Auteur: |
Kamrani, Hamed Yu, Feng Frank, Kristian Strempel, Klaas Fatahilah, Muhammad Fahlesa Wasisto, Hutomo Suryo Römer, Friedhard Waag, Andreas Witzigmann, Bernd |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 91 (2018) nr. P2 pagina's 227-231 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 23 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |