|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Proton-induced displacement damage in ZnO thin film transistors: Impact of damage location |
| Auteur: |
Yapabandara, Kosala Mirkhani, Vahid Wang, Shiqiang Khanal, Min P. Uprety, Sunil Isaacs-Smith, Tamara Hamilton, Michael C. Park, Minseo |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 91 (2018) nr. P2 pagina's 262-268 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |