|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 960 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of indium content and carrier distribution on the efficiency and reliability of InGaN/GaN-based multi quantum well light emitting diode |
| Auteur: |
Casu, C. Buffolo, M. Caria, A. De Santi, C. Zanoni, E. Meneghesso, G. Meneghini, M. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 126 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 960 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |