|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 933 van 2999 gevonden artikelen
| Titel: |
Effectiveness of a hardware-based approach to detect resistive-open defects in SRAM cells under process variations |
| Auteur: |
Gomez, A.F. Lavratti, F. Medeiros, G. Sartori, M. Poehls, L. Bolzani Champac, V. Vargas, F. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 67 (2016) nr. C pagina's 150-158 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 933 van 2999 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |