|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 781 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
Die degradation effect on aging rate in accelerated cycling tests of SiC power MOSFET modules |
| Auteur: |
Luo, Haoze Baker, Nick Iannuzzo, Francesco Blaabjerg, Frede |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 76-77 (2017) nr. C pagina's 415-419 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 781 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |