|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 710 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
Degradation of vertical GaN-on-GaN fin transistors: Step-stress and constant voltage experiments |
| Auteur: |
Ruzzarin, M. Meneghini, M. De Santi, C. Sun, M. Palacios, T. Meneghesso, G. Zanoni, E. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 88-90 (2018) nr. C pagina's 620-626 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 710 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |