|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 709 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
Degradation of pMOSFETs due to hot electron induced punchthrough |
| Auteur: |
Son, Donghee Kim, Gang-Jun Seo, Ji-Hoon Lee, Nam-Hyun Kang, YongHa Kang, Bongkoo |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 59 (2016) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 709 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |