|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 705 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
Degradation of GaN-on-GaN vertical diodes submitted to high current stress |
| Auteur: |
Fabris, E. Meneghini, M. De Santi, C. Hu, Z. Li, W. Nomoto, K. Gao, X. Jena, D. Xing, H.G. Meneghesso, G. Zanoni, E. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 88-90 (2018) nr. C pagina's 568-571 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 705 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |