|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 678 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
Deep trap-induced dynamic on-resistance degradation in GaN-on-Si power MISHEMTs |
| Auteur: |
Sasikumar, A. Arehart, A.R. Cardwell, D.W. Jackson, C.M. Sun, W. Zhang, Z. Ringel, S.A. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 56 (2016) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 678 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |