|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 656 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
Crosstalk optimization and gate oxide reliability analysis in intercalation doped MLGNR with reduced vertical thickness |
| Auteur: |
Wu, Qixiao Pan, Zhongliang |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 155 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 656 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |