|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 594 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
Conducted EMI evolution of power SiC MOSFET in a Buck converter after short-circuit aging tests |
| Auteur: |
Douzi, Shawki Kadi, Moncef Boulzazen, Habib Tlig, Mohamed Ben Hadj Slama, Jaleleddine |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 88-90 (2018) nr. C pagina's 219-224 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 594 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |