|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 593 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
Condition multi-classification and evaluation of system degradation process using an improved support vector machine |
| Auteur: |
Miao, Qiang Zhang, Xin Liu, Zhiwen Zhang, Heng |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 75 (2017) nr. C pagina's 223-232 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 593 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |