|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 584 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
Comprehensive investigation on different ions of geostationary orbit induced single event burnout in GaN HEMT power devices |
| Auteur: |
Wu, Wangran Xu, Wenting Qu, Kai Yang, Guangan Yu, Zuoxu Sun, Weifeng |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 149 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 584 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |