Details van artikel 579 van 2989 gevonden artikelen
Comphy v3.0—A compact-physics framework for modeling charge trapping related reliability phenomena in MOS devices
Titel:
Comphy v3.0—A compact-physics framework for modeling charge trapping related reliability phenomena in MOS devices
Auteur:
Waldhoer, Dominic Schleich, Christian Michl, Jakob Grill, Alexander Claes, Dieter Karl, Alexander Knobloch, Theresia Rzepa, Gerhard Franco, Jacopo Kaczer, Ben Waltl, Michael Grasser, Tibor
Verschenen in:
Microelectronics reliability
Paginering:
Jaargang 146 () nr. C pagina's p.
Jaar:
2023
Inhoud:
Uitgever:
The Authors
Bronbestand:
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
Details van artikel 579 van 2989 gevonden artikelen