|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 556 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparative study of low-frequency noise in 0.18μm and 0.35μm gate-length nMOSFETs with gate area of 1.1μm2 |
| Auteur: |
Hu, Chih-Chan Chau, Yuan-Fong Chou Lim, Chee Ming Tan, Kuang-Hsiung |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 60 (2016) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 556 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |