|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 515 van 3024 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of the carriers' multiplication in Si and SiC power devices by soft-gamma irradiation under cryostatic conditions |
| Auteur: |
Pocaterra, M. Ciappa, M. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 138 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 515 van 3024 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |