Details van artikel 515 van 2999 gevonden artikelen
Charge deposition analysis of heavy-ion-induced single-event burnout in low-voltage power VDMOSFET
Titel:
Charge deposition analysis of heavy-ion-induced single-event burnout in low-voltage power VDMOSFET
Auteur:
Alberton, Saulo G. Aguiar, V.A.P. Medina, N.H. Added, N. Macchione, E.L.A. Menegasso, R. Cesário, G.J. Santos, H.C. Scarduelli, V.B. Alcántara-Núñez, J.A. Guazzelli, M.A. Santos, R.B.B. Flechas, D.
Verschenen in:
Microelectronics reliability
Paginering:
Jaargang 137 () nr. C pagina's p.
Jaar:
2022
Inhoud:
Uitgever:
Elsevier Ltd
Bronbestand:
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
Details van artikel 515 van 2999 gevonden artikelen