|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 491 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterisation of defects generated during constant current InGaN-on-silicon LED operation |
| Auteur: |
Made, R.I Gao, Yu Syaranamual, G.J. Sasangka, W.A. Zhang, L. Nguyen, Xuan Sang Tay, Y.Y. Herrin, J.S. Thompson, C.V. Gan, C.L. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 76-77 (2017) nr. C pagina's 561-565 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 491 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |