Details van artikel 474 van 2965 gevonden artikelen
Capture and emission time map to investigate the positive VTH shift in p-GaN power HEMTs
Titel:
Capture and emission time map to investigate the positive VTH shift in p-GaN power HEMTs
Auteur:
Modolo, N. Fregolent, M. Masin, F. Benato, A. Bettini, A. Buffolo, M. De Santi, C. Borga, M. Posthuma, N. Bakeroot, B. Decoutere, S. Vogrig, D. Neviani, A. Meneghesso, G. Zanoni, E. Meneghini, M.
Verschenen in:
Microelectronics reliability
Paginering:
Jaargang 138 () nr. C pagina's p.
Jaar:
2022
Inhoud:
Uitgever:
Published by Elsevier B.V.
Bronbestand:
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
Details van artikel 474 van 2965 gevonden artikelen