|
B-Spline X-Ray Diffraction Imaging — Rapid non-destructive measurement of die warpage in ball grid array packages |
|
|
|
Titel: |
B-Spline X-Ray Diffraction Imaging — Rapid non-destructive measurement of die warpage in ball grid array packages |
Auteur: |
Cowley, A. Ivankovic, A. Wong, C.S. Bennett, N.S. Danilewsky, A.N. Gonzalez, M. Cherman, V. Vandevelde, B. De Wolf, I. McNally, P.J. |
Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
Paginering: |
Jaargang 59 (2016) nr. C pagina's 9 p. |
Jaar: |
2016 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier Ltd |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|