|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 454 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
Bias temperature instabilities in 4H SiC metal oxide semiconductor field effect transistors: Insight provided by electrically detected magnetic resonance |
| Auteur: |
Lenahan, P.M. Anders, M.A. Waskiewicz, R.J. Lelis, A.J. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 81 (2018) nr. C pagina's 1-6 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 454 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |