|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 452 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
Bias dependence of TID induced single transistor latch for 0.13μm partially depleted SOI input/output NMOSFETs |
| Auteur: |
Fan, Shuang Ning, Bingxu Hu, Zhiyuan Zhang, Zhengxuan Bi, Dawei Peng, Chao Song, Lei Dai, Lihua |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 56 (2016) nr. C pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 452 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |