|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 431 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
A voltage-transient method for characterizing traps in GaN HEMTs |
| Auteur: |
Zheng, Xiang Feng, Shiwei Gao, Yifu Zhang, Yamin Jia, Yunpeng Pan, Shijie |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 93 (2019) nr. C pagina's 57-60 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 431 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |