|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 409 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
Atmospheric neutron single event effect test on Xilinx 28 nm system on chip at CSNS-BL09 |
| Auteur: |
Yang, Weitao Li, Yonghong Li, Yang Hu, Zhiliang Xie, Fei He, Chaohui Wang, Songlin Zhou, Bin He, Huan Khan, Waseem Liang, Tianjiao |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 99 (2019) nr. C pagina's 119-124 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 409 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |