|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 383 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
Assessment of sense measurement duration on BTI degradation in MG/HK CMOS technologies using a novel stacked transistor test structure |
| Auteur: |
Kerber, Andreas |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 73 (2017) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 383 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |