|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 375 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
A simulation-based evaluation of single-event burnout mechanisms and varied SEB hardening designs in power LDMOS transistors |
| Auteur: |
Lei, Yibo Fang, Jian Zhang, Bo |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 135 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 375 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |