|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 297 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
A novel on-wafer approach to test the stability of GaN-based devices in hard switching conditions: Study of hot-electron effects |
| Auteur: |
Modolo, Nicola Meneghini, Matteo Barbato, Alessandro Nardo, Arianna De Santi, Carlo Meneghesso, Gaudenzio Zanoni, Enrico Sicre, Sebastien Prechtl, Gerhard Curatola, Gilberto |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 114 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 297 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |