|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 284 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
A novel BIST for monitoring aging/temperature by self-triggered scheme to improve the reliability of STT-MRAM |
| Auteur: |
Zhou, Y. Cai, H. Zhang, M. Naviner, L.A.B. Yang, J. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 114 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 284 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |