|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 28 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
A comparative study on electrothermal characteristics of nanoscale multiple gate MOSFETs |
| Auteur: |
Gu, Qi-Lin Zhang, Peng Ru, Yi Song, Hao Zhao, Wen-Sheng Yin, Wen-Yan |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 78 (2017) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 28 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |