|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 271 van 2999 gevonden artikelen
| Titel: |
An investigation of FinFET single-event latch-up characteristic and mitigation method |
| Auteur: |
Li, Dongqing Liu, Tianqi Wu, Zhenyu Cai, Chang Zhao, Peixiong He, Ze Liu, Jie |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 114 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 271 van 2999 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |