|
An improved test methodology for detecting one-case latent damage in inverter circuit under ESD pulses |
|
|
|
Titel: |
An improved test methodology for detecting one-case latent damage in inverter circuit under ESD pulses |
Auteur: |
Qing, Yihong Han, Aoran Liao, Wenqian Chen, Le Yang, Zihan Du, Feibo Xie, Tiantian Wu, You-Lin Liu, Zhiwei Kaushik, Brajesh Kumar |
Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
Paginering: |
Jaargang 134 () nr. C pagina's p. |
Jaar: |
2022 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier Ltd |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|