|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 214 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
Analyzing the impact of radiation-induced failures in flash-based APSoC with and without fault tolerance techniques at CERN environment |
| Auteur: |
Tambara, L.A. Chielle, E. Kastensmidt, F.L. Tsiligiannis, G. Danzeca, S. Brugger, M. Masi, A. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 76-77 (2017) nr. C pagina's 640-643 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 214 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |