|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 211 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
Analytical parameter extraction for NBTI reaction diffusion and trapping/detrapping models |
| Auteur: |
Wang, YanLing Li, XiaoJin Qing, Jian Zeng, Yan Shi, YanLing Guo, Ao Hu, ShaoJian Chen, Shoumian Zhao, Yuhang |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 66 (2016) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 211 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |