|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
A combined physicochemical-microstructural approach to predict the crack path at the topside interconnections in IGBT power devices |
| Auteur: |
Shqair, M. Khatir, Z. Ibrahim, A. Berkani, M. Halouani, A. Hamieh, T. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 132 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |