|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 189 van 2989 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of the degradation mechanisms occurring in the topside interconnections of IGBT power devices during power cycling |
| Auteur: |
Dornic, N. Ibrahim, A. Khatir, Z. Tran, S.H. Ousten, J.-P. Ewanchuk, J. Mollov, S. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 88-90 (2018) nr. C pagina's 462-469 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 189 van 2989 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |