|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 963 van 1093 gevonden artikelen
| Titel: |
Statistics and localisation of vertical breakdown in AlGaN/GaN HEMTs on SiC and Si substrates for power applications |
| Auteur: |
Fleury, Clément Zhytnytska, Rimma Bychikhin, Sergey Cappriotti, Mattia Hilt, Oliver Visalli, Domenica Meneghesso, Gaudenzio Zanoni, Enrico Würfl, Joachim Derluyn, Joff Strasser, Gottfried Pogany, Dionyz |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 53 (2013) nr. 9-11 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 963 van 1093 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |