|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 953 van 1093 gevonden artikelen
| Titel: |
S-parameter performance degradation in power RF N-LDMOS devices due to hot carrier effects |
| Auteur: |
Belaïd, M.A. Gares, M. Daoud, K. Eudeline, Ph. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 51 (2011) nr. 9-11 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 953 van 1093 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |