|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 940 van 1093 gevonden artikelen
| Titel: |
Simulation of ESD protection devices in an advanced CMOS technology using a TCAD workbench based on an ESD calibration methodology |
| Auteur: |
Cilento, T. Schenkel, M. Yun, C. Mishra, R. Li, J. Chatty, K. Gauthier, R. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 50 (2010) nr. 9-11 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 940 van 1093 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |