|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 924 van 1093 gevonden artikelen
| Titel: |
Scanning probe microscopy based electrical characterization of thin dielectric and organic semiconductor films |
| Auteur: |
Hofer, Alexander Biberger, Roland Benstetter, Günther Wilke, Björn Göbel, Holger |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 53 (2013) nr. 9-11 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 924 van 1093 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |