|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 895 van 1093 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability of submicron InGaAs/InP DHBT under thermal and electrical stresses |
| Auteur: |
Koné, G.A. Grandchamp, B. Hainaut, C. Marc, F. Maneux, C. Labat, N. Zimmer, T. Nodjiadjim, V. Riet, M. Godin, J. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 51 (2011) nr. 9-11 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 895 van 1093 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |