|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 82 van 1093 gevonden artikelen
| Titel: |
A new high-voltage tolerant I/O for improving ESD robustness |
| Auteur: |
Jang, J.T. Kim, Y.C. Bong, W.H. Kwon, E.K. Kwon, B.J. Jeon, J.S. Kim, H.G. Son, I.H. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 46 (2006) nr. 9-11 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 82 van 1093 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |