|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 738 van 1093 gevonden artikelen
| Titel: |
New experimental findings on hot-carrier-induced degradation in lateral DMOS transistors |
| Auteur: |
Lee, In Kyung Na Yun, Se Re Kim, Kyo Sun Yu, Chong Gun Park, Jong Tae |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 46 (2006) nr. 9-11 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 738 van 1093 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |