|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 726 van 1093 gevonden artikelen
| Titel: |
NBTI and hot-carrier effects in accumulation-mode Pi-gate pMOSFETs |
| Auteur: |
Lee, Chi-Woo Ferain, Isabelle Afzalian, Aryan Yan, Ran Dehdashti, Nima Razavi, Pedram Colinge, Jean-Pierre Park, Jong Tae |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 49 (2009) nr. 9-11 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 726 van 1093 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |