|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 641 van 1093 gevonden artikelen
| Titel: |
Laser THz emission microscope as a novel tool for LSI failure analysis |
| Auteur: |
Yamashita, Masatsugu Otani, Chiko Kim, Sunmi Murakami, Hironaru Tonouchi, Masayoshi Matsumoto, Toru Midoh, Yoshihiro Miura, Katsuyoshi Nakamae, Koji Nikawa, Kiyoshi |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 49 (2009) nr. 9-11 pagina's 11 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 641 van 1093 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |