|
Inventory of silicon signatures induced by CDM event on deep sub-micronic CMOS–BICMOS technologies |
|
|
|
Titel: |
Inventory of silicon signatures induced by CDM event on deep sub-micronic CMOS–BICMOS technologies |
Auteur: |
Galy, Ph. Dudit, S. Vallet, M. Larre, Ph. Bilinski, M. Petit, E. Beltritti, J. Dray, A. Jimenez, J. Jezequel, F. Chevallier, R. Boutonnat, C. Varo, V. |
Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
Paginering: |
Jaargang 50 (2010) nr. 9-11 pagina's 5 p. |
Jaar: |
2010 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier Ltd |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|