|
Innovative Methodology for Predictive Reliability of Intelligent Power Devices Using Extreme Electro-thermal Fatigue |
|
|
|
Titel: |
Innovative Methodology for Predictive Reliability of Intelligent Power Devices Using Extreme Electro-thermal Fatigue |
Auteur: |
Khong, B. Tounsi, P. Dupuy, Ph. Chauffleur, X. Legros, M Deram, A. Levade, C. Vanderschaeve, G. Dorkel, J.-M. Fradin, J.-P. |
Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
Paginering: |
Jaargang 45 (2005) nr. 9-11 pagina's 6 p. |
Jaar: |
2005 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier Ltd |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|