|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 588 van 1093 gevonden artikelen
| Titel: |
Influence of the interface trap location on the performance and variability of ultra-scaled MOSFETs |
| Auteur: |
Velayudhan, V. Gamiz, F. Martin-Martinez, J. Rodriguez, R. Nafria, M. Aymerich, X. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 53 (2013) nr. 9-11 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 588 van 1093 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |